Fizeau干涉儀是*簡單，用途*廣泛的干涉儀之一，廣泛用于平面和球形表面的常規(guī)測量。它用于測量光學組件，例如平板，棱鏡，透鏡，或精密金屬零件，例如軸承，密封面或拋光陶瓷。可以使用靜態(tài)條紋分析軟件進行測量。
Holmarc Fizeau干涉儀（型號：HO-ED-INT-14）基本上帶有高光學質(zhì)量（λ/ 20）參考平面。測試表面的反射會干擾參考平面的反射，從而產(chǎn)生條紋。條紋的形狀和質(zhì)量取決于測試平板的表面質(zhì)量。使用高分辨率CCD相機對條紋進行數(shù)字化處理。通過分析條紋，我們可以獲得PV平坦度，RMS平坦度，3D表面圖等。儀器豎立安裝，可以輕松固定測試樣品。傾斜/傾斜測試基座可使測試樣品與參考表面對齊。高質(zhì)量的像差校正光學設(shè)計可增強性能。
特征 可以進行高精度的平面度測量 使用靜態(tài)條紋分析軟件 儀器豎立放置，因此測試樣品可以輕松固定 使用高質(zhì)量的像差校正光學元件